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Metrologia e controle dimensional : conceitos, normas e aplicações / João Cirilo da Silva Neto. -

Por: Tipo de material: TextoTextoDetalhes da publicação: Rio de Janeiro : Elsevier, 2019.Edição: 2. ed., rev. e ampl. -Descrição: xviii, 301p. : il. ; 24cmISBN:
  • 9788535290387
Assunto(s): Classificação Decimal de Dewey:
  • 23 620 Engenharia, Manuais e teoria geral SIL
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Livros EEEFM José Cupertino 620 SIL Disponível 1303529
Livros EEEFM Marinete de Souza Lira 620 SIL Disponível 1238592
Livros EEEFM Marinete de Souza Lira 620 SIL Disponível 1238593

"Revisada e ampliada com questões e exercícios de revisão."

Acesso a conteúdo complementar em: www.evolution.com.br.

Inclui índice.

Bibliografia: 289-295.


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